国产芯片公司利扬宣布好消息：完成全球第一颗3nm芯片测试开发

7月8日消息，广东利扬芯片测试股份有限公司在互动平台表示，公司完成全球第一颗3nm芯片测试开发。

利扬芯片表示，公司近几年不断加大在高端芯片领域的测试研发投入，尤其是公司的算力芯片测试技术针对先进制程的离散性难题提供全套测试解决方案，重点解决了功耗比、芯片内阻、大电流测试电路、测试温度控制等关键技术难点。

前期已经在8nm和5nm芯片产品上为多家客户提供量产测试服务， 目前3nm先进制程工艺的芯片测试方案已调试成功，标志着公司完成全球第一颗3nm芯片的测试开发，将向量产测试阶段有序推进。

不过利扬芯片并没有透露这个3nm芯片是谁家的，他们主要从事芯片测试工作，3nm芯片并非自己设计、制造的。