快科技9月3日消息,据南京发布公告, 经过4年的自主研发,国家第三代半导体技术创新中心(南京),成功攻克沟槽型碳化硅MOSFET芯片制造的关键技术。
这也是我国在这一领域的首次突破,打破了平面型碳化硅MOSFET芯片性能“天花板”。
沟槽型碳化硅MOSFET芯片因其卓越的性能,如更低的导通损耗、更好的开关性能和更高的晶圆密度,一直被视为半导体技术的前沿。
然而,由于碳化硅材料的高硬度和制备过程中的复杂性,沟槽型碳化硅MOSFET芯片的制造工艺一直是一个难题。
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这也是我国在这一领域的首次突破,打破了平面型碳化硅MOSFET芯片性能“天花板”。
沟槽型碳化硅MOSFET芯片因其卓越的性能,如更低的导通损耗、更好的开关性能和更高的晶圆密度,一直被视为半导体技术的前沿。
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热点播报 2024-08-28 18:23:54
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